X-Işını Difraktometresi (XRD)

DEFAM

X-Işını Kırınım yöntemi (XRD)

X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristal fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak, X-ışınlarının karakteristik bir düzen içerisinde kırılması esasına dayanır. XRD cihazıyla kristal yapıdaki malzemelerin nitel incelemeleri yapılır. Cihaz toz veya bulk halindeki numune analizlerine uygundur. Cihazda son teknoloji optik düzenekler, numune tutucular ve pixel teknolojisine sahip CERN patentli XRD dedektör (PIXcel 1D) sistemi mevcuttur.

 

 

Uygulama Alanları

·        Jeolojide minerallerin ve kayaçların tanımlanmasında

·        Metal ve alaşım analizlerinde

·        Seramik ve çimento sanayiinde

·        Polimerlerin analizinde

·        İlaç endüstrisinde belli bir malzeme içindeki polimorfların ve safsızlıkların tespitinde

Arkeolojide, tarihi yapıları oluşturan malzemelerin tayininde


X-Işını Difraktometresi (XRD) Cihazı Analiz Ücreti

Analiz Türü Açıklamalar Ücret Form
Toz veya levha örnekler Toz örnekler için 100 mikrondan küçük öğütülmüş olmalıdır. 100 TL/numune (0-15 dakika) Cihaz Form
Toz veya levha örnekler Toz örnekler için 100 mikrondan küçük öğütülmüş olmalıdır. Her 10 dakika artış için 30 TL Cihaz Form
Faz Analizi Örnek sahibinin eşliğinde faz analizi yapılır. Önceden randevu alınması gerekmektedir. 150 TL/numune Cihaz Form

ÖRNEK SONUÇLAR

Çağlar KARACA

Telefon : 0236 201 2626

Mail Adres : caglar.karaca@cbu.edu.tr

Mehmet İsmail KATI

Telefon : 02362012626

Mail Adres : mehmetismail.kati@cbu.edu.tr